I Congreso de Postgrado fcfm: ingeniería, ciencias e innovación

86 Santiago, 10 al 12 de agosto, 2022 CÓMO CONTROLAR LA DISPERSIÓN DE LA LUZ EN MATERIALES COMPLEJOS Alfredo Rates¹*, Minh Duy Truong¹, Ad Lagendijk¹, Willem L. Vos¹ 1 Complex Photonic Systems (COPS), MES + Institute for Nanotechnology, University of Twente, P.O. Box 217, 7500 AE Enschede, The Netherlands. *Email: a.ratessoriano@utwente.nl RESUMEN Poder observar y controlar la luz a través de materiales opacos ha sido un tema de investigación en múltiples áreas de la ciencia, desde nanotecnología hasta medicina. Una técnica desarrollada recientemente para lograr este objetivo es Wavefront Shaping (WFS) [1], donde se controla la dispersión de la luz mediante interferencia. El potencial de la técnica WFS ha sido ampliado en múltiples direcciones, con muchas mejoras a lo largo de los años. Aún, WFS se enfoca en optimizar la intensidad de la luz, sin preocuparse de las propiedades complejas de esta. A raíz del estudio de WFS. recientemente se ha descubierto el efecto Mutual Extinction and Transparency (MET)[2], el cual estudia la interferencia entre luz coherente y luz dispersa. Explotando el efecto MET, se puede controlar tanto la dispersión como la absorción de la luz, con lo que se puede manipular la transparencia de un objeto. Este efecto fue observado experimentalmente[3] y promete ser una ampliación de la técnica WFS para materiales absorbentes. En esta charla haré una introducción a nuestro grupo Complex Photonic Systems (COPS), donde se descubrieron tanto la técnica WFS como el efecto MET. Hablaré de la importancia del estudio de la dispersión de la luz y cómo en COPS estudiamos estos fenómenos. Finalmente, hablaré en detalle sobre el efecto MET y su proyección a futuro. AGRADECIMIENTOS Agradecemos a Cornelis Harteveld por su apoyo técnico, Ozan Akdemir por preparación de muestras y Catalina García por su contribución. Este trabajo fue financiado por el programa P15-36 de NWO-TTW “Free-form scatter - ing optics” y el MESA+ institute en la sección Applied Nanophotonics (ANP). REFERENCIAS [1] I. M. Vellekoop and A. P. Mosk, Opt. Lett. 32 , 2309 (2007). [2] A. Lagendijk, A. P. Mosk, and W. L. Vos, EPL 130 , 34002 (2020). [3] A. Rates, A. Lagendijk, O. Akdemir, A. P. Mosk, W. L. Vos, PRA 104 (4), 043515 (2021). F Í S I CA Y A S T ROF Í S I CA 05